赛默飞世尔
V600 系列包括适用于半导体实验室的最高效、灵活且具成本效益的电路编辑工具。 其可使用单镜筒聚焦离子束 (FIB) 进行快速、多功能的修改和分析，有效提供高生产量电路修改、横截面...
2016-10-12
V400ACE 聚焦离子束 (FIB) 系统融入了离子镜筒设计、气体输送和终端探测技术的最新发展成果，用以提供快速、有效、具成本效益的先进集成电路编辑。 电路编辑使产品设计人员可在数小...
2016-10-12
创新的等离子 FIB 源技术 Vion PFIB 是一款具有高精度、高速度切割和铣蚀能力的仪器。 其具有选择性铣蚀所关注区域的能力。 此外， PFIB 可以选择性沉积带图案的导体和绝缘体。 高速铣...
2016-10-12
快速、易用、绝佳图像质量 纳米级物质成像、分析和控制 这些未来研发的关键因素 因 Helios NanoLab DualBeam 系列仪器的诞生而变得普通平淡。 这些仪器融合了扫描电子显微镜 (SEM) 和聚焦...
2016-10-12
适合材料表征、失效分析和更多应用的多功能 FIB/SEM 作为用于二维和三维材料表征和分析的功能性最广泛的 DualBeam 仪器， Quanta 3D 拥有三种 SEM 成像模式（高真空、低真空和环境 SEM ），...
2016-10-12
用于高级分析的创新技术 FEI Tecnai 系列透射电子显微镜 (TEMs) 旨在为生命科学、材料科学和电子行业提供真正完整的成像和分析解决方案。 Tecnai G2 系列拥有数种型号，结合了现代技术和...
2016-10-12
全球功能最强大的透射电子显微镜 自 2005 年推出以来， Titan 以其卓越的产品设计和已获证明的具有突破性的性能和结果成为全球各地杰出研究人员的首选扫描 / 透射电子显微镜 (S/TEM...
2016-10-12
用于纳米尺度研究的重要扫描电子显微镜 Inspect 系列扫描电子显微镜 (SEM) 采用先进的样品室真空技术 以及 FEI 的世界一流电子光学和 样品生产量 技术 。 只要检验、表征、工艺控制和...
2016-10-12
适用于各种样品的高真空、低真空和 ESEM 模式 FEI QUANTA 产品系列包括 6 个变量的压力和环境扫描电子显微镜（ ESEM ）和两个 DualBeam 系统，所有这些都可以容纳多个样品和工业过程控制实...
2016-10-12
适合各种应用的卓越纳米级研究工具 Nova NanoSEM50 系列可帮助取得更大成就。 NanoSEM50 系列还引入了最低速度新一代的高灵敏可伸缩 SE/ BSE 和干 探测器和多功能的 SE/ BSE 过滤功能，使感兴...
2016-10-12
对于失效分析、质量控制和材料表征而言、 Q25 是最经济、最高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、 Q25 可以让用户迅速得到他们所需的数据。 为应对不导电...
2016-10-12
极高分辨率的扫描电子显微镜 Verios XHR SEM 系列扫描电子显微镜 (SEM) 让科学家和工程师迅速看到以前无法视及的微观世界： 高灵敏的表面图像、以及俯视或从其它角度观看图像，分辨率...
2016-10-12
